微觀檢測(cè)紅外熱像儀測(cè)試平臺(tái)
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產(chǎn)品名稱: 微觀檢測(cè)紅外熱像儀測(cè)試平臺(tái)
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: 德計(jì)應(yīng)用方案
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
微觀檢測(cè)紅外熱像儀測(cè)試平臺(tái)采用包含紅外探測(cè)器、主處理芯片、FPGA、電源芯片等在內(nèi)的全球**硬件，充分保證熱像儀的品質(zhì)、性能及穩(wěn)定性。熱像儀可配置 50μm 和 100μm 微距鏡頭，使得熱像儀可以輕松獲取芯片等微觀結(jié)構(gòu)溫度分布及詳細(xì)數(shù)據(jù)；熱像儀配備專用研發(fā)測(cè)試平臺(tái)，讓研究人員靈活、精細(xì)、穩(wěn)定地觀測(cè)和分析。
微觀檢測(cè)紅外熱像儀測(cè)試平臺(tái)
的詳細(xì)介紹